开启全网商机
登录/注册
一、项目信息 | ||||||||||||||||
1.项目名称:****曲面微区X射线荧光谱仪项目 | ||||||||||||||||
2.拟采购的货物或服务的说明 | ||||||||||||||||
X射线荧光分析法是一种常用的无损分析手段,它根据物质的特征X谱线进行元素识别和定量分析。微区X射线荧光光谱仪对激发X射线进行微聚焦,可以实现微米量级的空间区域上的元素分析,对于不均匀物体的元素分析具有重要意义。通常,微区X射线荧光光谱仪通过X射线多毛细管透镜对X射线进行汇聚,可将普通的微焦点射线源发出的发散的X射线进行汇聚,这种方式比准直获得的微焦斑的X射线亮度高几千倍。由于可以获得微小区域的元素信息,加载运动扫描装置后微区X射线荧光光谱仪进而可以逐点扫描、分析、拼接,从而获得被扫描表面的元素分布图像。 根据**省文物分析检测需求,****智能CT无损检测平台拟采购一台可实现实时元素分析与三维显示、适用于我国文物特点的开放式高精度曲面微区XRF元素分析与多维成像系统。拟以单一来源的形式采购曲面微区X射线荧光谱仪。 | ||||||||||||||||
3.拟采购的货物或服务的预算金额:****000元 | ||||||||||||||||
4.单一来源原因及相关说明 | ||||||||||||||||
拟采购的曲面微区X射线荧光谱仪需能够进行曲面物体表面高精度元素分布成像。应用六轴机械臂实现多自由度运动,结合深度相机和智能轨迹算法,可对多种物体表面进行自动导航高精度扫描。具有激光定位功能,能够手动拖拽到指定位置或通过软件自动定位到待检测点,对单一检测点进行自定义时间的元素分析。针对平面或者表面不平整的曲面物体,均能够实现高精度三维XRF自动成像,在扫描过程中,保持入射X射线始终垂直物体表面,能够确保曲面元素信息的准确性。扫描过程中,软件界面能够实时显示光谱信息和已扫描区域的元素分布图像。扫描结果以三维点云的形式显示,能够根据采购人需求生成指定元素的融合图像,显示更丰富的表面元素分布信息。还应配备距离传感器、力控传感器、硬件限位功能和软件预扫描四重措施保证检测物品安全。 目前****设备为国际首创的实现曲面微区XRF扫描的设备,为市面上唯一一款满足需求的设备,根据《****政府采购法》第三十一条第一款“只能从唯一供应商处采购”的规定,本项目拟采用单一来源方式采购。 | ||||||||||||||||
二、拟定供应商信息 | ||||||||||||||||
1.名称:**** | ||||||||||||||||
2.地址:**省**市起步区崔寨街道会展南路中科新经济科创园**** | ||||||||||||||||
三、专家论证意见(不少于三名行业技术专家) | ||||||||||||||||
| ||||||||||||||||
四、公示期限 | ||||||||||||||||
2024年11月08日00时00分 至 2024年11月14日23时59分(**时间,法定节假日除外。) | ||||||||||||||||
五、异议反馈时限 | ||||||||||||||||
2024年11月08日08时00分 至 2024年11月14日17时30分 | ||||||||||||||||
六、其他需要公示内容 | ||||||||||||||||
潜在供应商对公示内容有异议的,请于公示期内以实名书面(包括联系人、地址、联系****财政厅****管理处或****。 | ||||||||||||||||
七、联系方式 | ||||||||||||||||
1. 采购人信息 | ||||||||||||||||
名称:**** | ||||||||||||||||
地址:**省**市郑东新区崇实里228号 | ||||||||||||||||
联系人:郭静 | ||||||||||||||||
联系方式:0371-****6631 | ||||||||||||||||
2.财政部门信息 | ||||||||||||||||
名称:****财政厅 | ||||||||||||||||
地址:**省**市经三路25号 | ||||||||||||||||
联系人:****管理处 | ||||||||||||||||
联系方式:0371-****8411 | ||||||||||||||||
3.采购代理机构信息 | ||||||||||||||||
名称:**** | ||||||||||||||||
地址:**省**市**区纬四路13号 | ||||||||||||||||
联系人:冯新生 张庆波 | ||||||||||||||||
联系方式:0371-****3522 |